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Trial devices for thermal diode (熱のダイオードの試作)

掲載日:
講演会
開催日:
日時 平成29年6月30日(金) 16:30-17:30
場所 電子科学研究所1階 セミナー1-3
講演者 Prof. Ichiro Terasaki (寺崎一郎 教授)
所属等 Nagoya University (名古屋大学)
タイトル Trial devices for thermal diode (熱のダイオードの試作)
概要 Thermal diode is a device that has different thermalconductance between the positive and negative directions. This can be realized in a non-uniform materials in which the conductivity depends on position and temperature. We have made a trial device for thermal diode by using Co oxides, and find a thermal rectifying coefficient of 1.43. In this seminar, we briefly review the physics of thermal diode and discuss new-type devices using phase transitions.
参考資料(論文) http://aip.scitation.org/doi/full/10.1063/1.3253712
主催 電子科学研究所学術交流委員会
連絡先 電子科学研究所 薄膜機能材料研究分野 太田裕道(ex 9428)
備考等 English (英語の講演です)
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